LET-5000半導體測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。
LET-5000半導體測試系統(tǒng)能在2200V（可擴展為10KV）和1000A （可擴展為6000A）的條件下實現(xiàn)精確測量、分析功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù)。
LET-5000具有快脈沖能力，并具有優(yōu)異的寬電壓和電流測量能力。這些功能能夠對最新的器件（例如 IGBT）和新型材料（例如 GaN 和 SiC）進行測量，可以測試器件包括：MOSFET、IGBT、二極管、三極管、JET、HEMT、光耦等。  
LET-5000由多個獨立的高精度源組成，每個功率源模塊上配備兩個獨立的模數(shù)(AD)轉換器支持2μs采樣率，每個模塊上的驅動能夠獨立精確控制，對有可能影響器件特性的關鍵計時進行精確監(jiān)測。具有高電壓和大電流特性、μΩ級導通電阻精確測量、nA 級漏電流測量能力等特點，支持高壓模式下功率器件結電容測試，如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。


系統(tǒng)組成

（1）力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件，以及相關測試配件等構成。

（2）整套系統(tǒng)采用力鈦科自主開發(fā)的測試主機，內置多種規(guī)格電壓、電流、電容測量單元模塊。結合專用上位機測試軟件，可根據(jù)測試項目需要，設置不同的電壓、電流等參數(shù)，以滿足不同測試需求。測試數(shù)據(jù)可保存與導出，并可生成I-V以及C-V特性曲線。此外，測試主機可與探針臺搭配使用，實現(xiàn)晶圓級芯片測試。

系統(tǒng)參數(shù) 

LET-5000系列的主要應用 
■  功率半導體的來料檢驗
■  功率半導體的靜態(tài)參數(shù)驗證或標定
■  實驗室的器件評估
■  功率半導體的生產(chǎn)檢驗和篩選
■  半導體器件的工藝改進評估
■  半導體器件的失效分析
■  半導體器件的教育科研

優(yōu)勢

硬件優(yōu)勢>>>

力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù) 測試系統(tǒng)，配置有多種測量單元模塊， 模塊化的設計測試方法靈活，能夠極 大方便用戶添加或升級測量模塊，適 應測量功率器件不斷變化的需求。

◆   高電壓達8000V(最大擴展至10kV)

◆   大電流達6000A(多模塊并聯(lián))

◆   nA級漏電流μQ 級導通電阻
◆   高精度測量0.1%

◆   模塊化配置可添加或升級測量單元

◆   測試效率高、自動切換、一鍵測試

◆   兼容多種封裝根據(jù)測試需求定制夾具
測試夾具

針對市面上不同封裝類型的硅基功率半導體，IGBT、SiC、MOS、GaN 等產(chǎn)品，力鈦科提供整套測試夾具解決方案， 可用于TO 單管，半橋模組等產(chǎn)品的測試，后期可根據(jù)客戶需求來定制化相對應封裝。

軟件特點>>>
◆   測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多 量程設計，測試精度為0.1%

◆   柵極-發(fā)射極，最大支持30V/10A 脈沖電流輸出與測 試，可測試低至pA級漏電流

◆   集電極-發(fā)射極，最大支持6000A高速脈沖電流，典型 上升時間為15 μs, 且具備電壓高速同步采樣功能

◆   最高支持8000V電壓輸出，且自帶漏電流測量 功能

◆  電容特性測試包括輸入電容、輸出電容、以及 反向傳輸電容測試，頻率最高支持1MHz

軟件界面

測試器件類型及項目

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訂購

LET-5000系列訂購信息>>>

LET-5000系列系統(tǒng)硬件夾具選件>>>